13911564578,010-82967128
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 澤攸科技電子顯微鏡 > TEM原位解決方案
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。
MEMS-STM-TEM PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）
聯(lián)系人：霍先生
地址：北京市昌平區(qū)吉晟別墅19-11
郵箱：huogang010@163.com
傳真：010-82967358歡迎您關(guān)注我們的微信號了解更多信息
掃一掃
歡迎來到