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簡要描述:原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力,熱,光,電等),從而對材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品描述
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力,熱,光,電等),從而對材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
△ 多模光纖外徑250um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);
△ 可選光纖探針、平頭光纖;
△ 配備快速SMA接頭、FC接頭。
△ 溫度控制范圍:室溫至1000℃;
△ 溫度準(zhǔn)確度:優(yōu)于5%;
△ 溫度穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1℃。
△ 可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加四種激勵,實(shí)現(xiàn)多種復(fù)雜的測試功能,完成以往無法實(shí)現(xiàn)的研究;
△ 高溫拉伸/壓縮 (加熱芯片+電學(xué)STM探針) ;
△ 熱電子發(fā)射/場發(fā)射 (加熱芯片+電學(xué)STM探針) ;
△ 三端器件測量 (電學(xué)芯片+電學(xué)STM探針) ;
△ 電致發(fā)光現(xiàn)象研究 (電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針) ;
△ 光電現(xiàn)象研究 (電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針) ;
△ 穩(wěn)定性高:輕松獲得大幅度運(yùn)動中的高分辨像,適用于更廣泛的應(yīng)用場景和樣品體系;
△ 超長的壽命:
△ 超低維護(hù)成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實(shí)現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護(hù)成本低;
△ 龐大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流;
△ 成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地?fù)碛腥舾杉夹g(shù)支持網(wǎng)點(diǎn),24小時提供技術(shù)支持
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