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原位MEMS低溫電學測量系統

簡要描述:PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統,是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實現低溫電學測量或全溫區(qū)測量功能。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-09-23
  • 訪  問  量:277

詳細介紹

產品描述

PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學樣品桿,是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實現低溫電學測量或全溫區(qū)測量功能。


• 性能指標

透射電子顯微鏡指標:

△ 兼容型號電鏡及極靴;

△ 單傾可選高傾角版本;

△ 可選雙傾版本,β角傾轉±25°(同時受限于極靴);

△ 測量電極數可選。

電學測量指標:

△ 包含一個電流電壓測試單元;

△ 電壓輸出最大±200 V,最小±100 nV;

△ 電流測量最大±1.5 A,最小100 fA;

△ 恒壓或者恒流模式;

△ 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。

低溫指標:

△ 兼容MEMS加熱及電學芯片;

△ 全溫區(qū)測量,溫度范圍:85 K- 380 K;

△ 控溫穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1 K;

△ 溫度連續(xù)可控 


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