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簡(jiǎn)要描述:ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品描述
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。
△ 載荷范圍:0-1000N
△ 位移分辨率:20nm
△ 加熱模塊:可選
△ 加載功能:拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲
△ 僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,無須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟;亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng),自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;
△ 抽真空時(shí)間小于90秒;標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航,搭配多樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品;
△ 信號(hào)采集帶寬10M,掃描速度快;視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,操作流暢,無卡頓;
△ 四分割背散射電子探測(cè)器(多種成像模式)、二次電子探測(cè)器;BSE+SE 模式(任意比列混合)、集成EDS元素分析功能;
△ 國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù);北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示;
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