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簡要描述:半導(dǎo)體專用顯微鏡,從尺寸極小的MEMS傳感器到大尺寸晶圓,甚至整個平板顯示器,檢測期間不會對樣品造成破壞。Axio Imager Vario支持的最大樣品高度為254 mm,最大橫向樣品空間為300 mm,大大拓展了可以測試的樣品范圍。機(jī)柱設(shè)計(jì)確保了良好的穩(wěn)定性??蓾M足在潔凈室內(nèi)檢測晶圓的應(yīng)用要求。利用驅(qū)動Z軸的電動馬達(dá)與自動聚焦硬件確保自動調(diào)整至理想的聚焦位置。
詳細(xì)介紹
從尺寸極小的MEMS傳感器到大尺寸晶圓,甚至整個平板顯示器,檢測期間不會對樣品造成破壞。Axio Imager Vario支持的最大樣品高度為254 mm,最大橫向樣品空間為300 mm,大大拓展了可以測試的樣品范圍。機(jī)柱設(shè)計(jì)確保了良好的穩(wěn)定性。可滿足在潔凈室內(nèi)檢測晶圓的應(yīng)用要求。利用驅(qū)動Z軸的電動馬達(dá)與自動聚焦硬件確保自動調(diào)整至理想的聚焦位置。
潔凈室
半導(dǎo)體生產(chǎn)和晶圓檢測需要在潔凈室內(nèi)進(jìn)行。根據(jù)DIN EN ISO 14644-1標(biāo)準(zhǔn),以每立方米的顆粒數(shù)量和大小將潔凈室劃分成不同等級。Axio Imager Vario已通過此標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證,并滿足5級潔凈室的應(yīng)用要求。ISO 5級潔凈室相當(dāng)于原先標(biāo)準(zhǔn)FED STD 209E(1992)的100級。潔凈室套件中包含一個7x物鏡轉(zhuǎn)盤、一個顆粒保護(hù)罩和防噴嚏保護(hù)罩。
具有兩種手動機(jī)柱和一種電動機(jī)柱(配有符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的三個模式控制按鈕)可供選擇,充分利用顯微鏡的最大橫向樣品空間300 mm x 300 mm和最大樣品高度254 mm的優(yōu)勢。
Axio Imager Vario能通過物鏡轉(zhuǎn)盤的上下移動來聚焦樣品。這意味著即便是較重的樣品,依然可以獲得高聚焦精度和可重復(fù)性。
借助硬件自動對焦功能,可以精準(zhǔn)快速地聚焦低對比度的反射樣品。
將Axio Imager Vario與LSM 900結(jié)合使用,能夠以高分辨率無接觸地分析敏感樣品
Axio Imager Vario已通過DIN EN ISO 14644-1認(rèn)證,并滿足5級潔凈室的應(yīng)用要求。
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